电子报
扫描电子显微镜（SEM）由一束细聚焦的电子束轰击样品表面，入射电子与样品的原子核和核外电子发生作用，激发出反映样品形貌、结构和组成的各种信号。
STC最新引进先进的扫描电子显微镜（SEM），最高分辨率可达3nm，标配有二次电子探头和4分割背散射电子探头，并配备了能谱仪（EDS），这种设备广泛应用于金属、半导体、陶瓷、纺织品等领域，可用于材料表面形貌的分析和微区的化学元素成分分析。
STC拥有先进的技术，可提供广泛的快速的材料分析服务。
